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Identifying technology lock-in and tracing knowledge source trajectories: a case study of lithography 识别技术锁定和追踪知识来源轨迹:以光刻为例
相关领域
锁(火器)
平版印刷术
路径依赖
新兴技术
计算机科学
利用
技术进化
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电信
材料科学
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人工智能
光电子学
微观经济学
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期刊:Technology Analysis & Strategic Management 作者:Pei Chen; Kashosi Gad David; Diyi Zhao 出版日期:2022-11-22 |
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