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![]() 使用纯硼和锗口袋层改善SOI隧道场效应晶体管的性能
相关领域
绝缘体上的硅
硼
材料科学
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光电子学
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硅
化学
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期刊:Microelectronics Journal 作者:Karabi Baruah; Satyabrat Malla Bujar Baruah; Srimanta Baishya 出版日期:2024-05-17 |
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