Effects of Gate/Blocking Oxide Energy Barrier on Memory Characteristics in Charge Trap Flash Memory Cells

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标题	[高分] Effects of Gate/Blocking Oxide Energy Barrier on Memory Characteristics in Charge Trap Flash Memory Cells
网址	https://doi.org/10.1166/nnl.2015.2002
DOI	10.1166/nnl.2015.2002 doi
其它	期刊：Nanoscience and Nanotechnology Letters 作者：Dong Hua Li; Wandong Kim; Won Bo Shim; Se Hwan Park; Yoon Kim; et al 出版日期：2015
求助人	waingfory 在 2025-10-30 17:27:16 发布自黑龙江，悬赏 150 积分
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