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![]() MeV质子和中子对深紫外发光二极管的损伤效应
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena 作者:Jian-Sian Li; Chao-Ching Chiang; Hsiao-Hsuan Wan; Jihyun Kim; Simon Barke; et al 出版日期:2024-08-21 |
求助人 |
Akim
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2025-08-19 21:09:38 发布,悬赏 10 积分
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