Lifetime tests of 600-V GaN-on-Si power switches and HEMTs

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标题	Lifetime tests of 600-V GaN-on-Si power switches and HEMTs 600V GaN-on-Si功率开关和HEMT的寿命测试相关领域平均故障间隔时间可靠性（半导体）可靠性工程材料科学功率（物理）转换器加速寿命试验电气工程降级（电信）电压电力电子故障率动力循环加速老化工程类威布尔分布物理统计数学量子力学
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2015.12.016
DOI	10.1016/j.microrel.2015.12.016 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Kurt V. Smith; J. Robert Haller; Josep M. Guerrero; R.P. Smith; R. Lal; et al 出版日期：2015-12-22
求助人	李孝鸿在 2025-12-13 20:57:59 发布自广东，悬赏 10 积分
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