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Estimation of the Young’s Modulus of Nanometer-Thick Films Using Residual Stress-Driven Bilayer Cantilevers 相关领域
纳米压痕
材料科学
残余应力
制作
悬臂梁
复合材料
模数
双层
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氮化硅
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压力(语言学)
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残余物
弹性模量
纳米技术
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期刊:Nanomaterials 作者:Luis A. Velosa-Moncada; Jean‐Pierre Raskin; L. A. Aguilera-Cortés; Francisco López-Huerta; Agustín L. Herrera‐May 出版日期:2022-01-14 |
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