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 Optimization of Reverse Recovery Characteristics Based on Termination Structure for 700V Super-Junction VDMOS 基于终端结构的700V超结VDMOS反向恢复特性优化
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期刊： 作者：Yibing Wang; Ming Qiao; Jue Li; Ruidi Wang; Bo Zhang 出版日期：2023-05-28 |
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