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XPS study of ion irradiated and unirradiated CeO2 bulk and thin film samples |
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期刊:Applied Surface Science 作者:К. И. Маслаков; Yury A. Teterin; Aleksej J. Popel; A. Yu. Teterin; K. E. Ivanov; et al 出版日期:2018-04-10 |
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