| 标题 |
Effective Tilting Angles for a Dual Probes AFM System to Achieve High-Precision Scanning |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE/ASME Transactions on Mechatronics 作者:Jim-Wei Wu; Yi-Ting Lin; Yu-Ting Lo; Wei-Chih Liu; Kuang-Yao Chang; et al 出版日期:2016-06-07 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)