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 Fast Adaptive Coarse-to-Fine PatchMatch-Based Defect Detection on Nonflat Prints 基于粗到细匹配的快速自适应非平面印刷品缺陷检测
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Chenbo Shi; Baodun Jia; Chun Zhang; Xiangteng Zang; Junsheng Zhang; et al 出版日期：2023-12-19 |
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