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 Research on Analog Integrated Circuit Test Parameter Set Reduction Based on XGBoost 基于XGBOP的模拟集成电路测试参数集约简研究
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期刊：Journal of Electronic Testing 作者：Yindong Xiao; Yutong Zeng; Qiong Wu; Ke Liu; Yanjun Li; et al 出版日期：2022-06-01 |
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