| 标题 |
Far side defect detection in composite materials through threshold dynamics effect of local defect resonance frequency 相关领域
材料科学
共振(粒子物理)
电压
复合数
参数统计
压电
振动
声学
扫频响应分析
复合材料
光学
阈值电压
声共振
频率响应
样品(材料)
能量(信号处理)
动力学(音乐)
激光器
低频
航程(航空)
多普勒效应
压力(语言学)
参量振荡器
材料性能
断层摄影术
近场和远场
环氧树脂
核磁共振
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Infrared Physics & Technology 作者:Manish Sharma; Tanmoy Bose 出版日期:2025-09-11 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)