The Effect of the Ionizing Radiation Intensity on the Response of MOS Structures

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标题	The Effect of the Ionizing Radiation Intensity on the Response of MOS Structures 电离辐射强度对MOS结构响应的影响相关领域电离辐射辐照离子原子物理学材料科学辐射半导体氧化物兴奋剂退火（玻璃）分析化学（期刊）分子物理学化学光电子学光学物理复合材料有机化学核物理学冶金色谱法
网址	https://doi.org/10.1134/s1063782621020068
DOI	10.1134/s1063782621020068 doi
其它	期刊：Semiconductors 作者：О. В. Александров 出版日期：2021-02-01
求助人	华仔在 2025-08-30 11:19:53 发布，悬赏 10 积分
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