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Direct Measurement of the Thickness-Dependent Electronic Band Structure ofMoS2Using Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy |
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期刊:Physical Review Letters 作者:Wencan Jin; Po‐Chun Yeh; Nader Zaki; Datong Zhang; Jerzy T. Sadowski; et al 出版日期:2013-09-03 |
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