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Measurement of the band offsets of SiO2 on clean n- and p-type GaN(0001) 相关领域
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:T. E. Cook; C. C. Fulton; Will Mecouch; K. M. Tracy; R. F. Davis; et al 出版日期:2003-03-27 |
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(2025-6-4)