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High-energy krypton-ion irradiation-induced stress and strain in AlGaN/GaN heterojunctions and latent tracks in devices |
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Wenfeng Wang; Can Zou; Feng Zhou; Junfan Qian; Chongrui Shu; et al 出版日期:2026-05-01 |
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(2025-6-4)