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Dynamic evolution of internal stress, grain growth, and crystallographic texture in arc-evaporated AlTiN thin films using in-situ synchrotron x-ray diffraction 相关领域
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期刊:Acta Materialia 作者:Sanjay Nayak; Tun‐Wei Hsu; Robert W. Boyd; Jens Gibmeier; Norbert Schell; et al 出版日期:2024-04-05 |
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