| 标题 |
Deep-IRT: Make Deep Learning Based Knowledge Tracing Explainable Using Item Response Theory 相关领域
追踪
深度学习
人工智能
计算机科学
项目反应理论
透视图(图形)
人工神经网络
机器学习
钥匙(锁)
过程(计算)
数学
心理测量学
统计
计算机安全
操作系统
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Cornell University - arXiv 作者:Chun-Kit Yeung 出版日期:2019-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|