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 Numerical analysis of the influence of sidewall defects on AlGaN-based deep ultraviolet micro-light emitting diodes 侧壁缺陷对AlGaN基深紫外微发光二极管影响的数值分析
相关领域
光电子学
紫外线
材料科学
发光二极管
二极管
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| 其它 |
期刊：Current Applied Physics 作者：Zhanhong Ma; Yue Ji; Tiangui Hu; Xuejiao Sun; Naixin Liu 出版日期：2024-08-08 |
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