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 X-Ray Diffraction Techniques for Mineral Characterization: A Review for Engineers of the Fundamentals, Applications, and Research Directions 相关领域
表征（材料科学）
材料科学
残余应力
衍射
纳米技术
冶金
物理
光学
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10.20944/preprints202112.0438.v1
Doi
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期刊： 作者：Asif Ali; Yi Wai Chiang; Rafael M. Santos 出版日期：2021-12-27 |
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