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 Ferroelectric properties and switching endurance of Hf 0.5 Zr 0.5 O 2 films on TiN bottom and TiN or RuO 2 top electrodes 相关领域
锡
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期刊：physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters 作者：Min Hyuk Park; Han Joon Kim; Yu Jin Kim; Woojin Jeon; Taehwan Moon; et al 出版日期：2014-02-17 |
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