| 标题 |
 Reliability Analysis of GaAs-based Low-noise Amplifiers under High-power Microwave Stress: Degradation Mechanisms and Failure Analysis 相关领域
可靠性（半导体）
降级（电信）
材料科学
微波食品加热
放大器
电子工程
失效机理
可靠性工程
瞬态分析
电路可靠性
失效模式及影响分析
光电子学
电气工程
工程类
计算机科学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Yiqun Zhang; Yang Zhang; Jiahua Lv; Zekang Huang; Zhao Zhang; et al 出版日期：2026-08-25 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人或该文件上传人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
无极微光
嘻嘻哈哈
潇洒的惋清
秋风
DW
平常迎天
林狗
朴素的鼠标
GingerF
aaaa
极限001
sagitar
xing_xing
arniu2008
寂寞的小鱼
lalala
陈冠希
星辰坠于海
牧云萧然
QingY
皖公网安备34019202002308
