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Over 200 cm2 V−1 s−1 of electron inversion channel mobility for AlSiO/GaN MOSFET with nitrided interface 具有氮化界面的AlSiO/GaN MOSFET的电子反转沟道迁移率超过200 cm2 V−1 s−1
相关领域
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期刊:Applied Physics Express 作者:Kenji Ito; Shiro Iwasaki; Kazuyoshi Tomita; Emi Kano; Nobuyuki Ikarashi; et al 出版日期:2023-06-30 |
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