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Analysis Of Fiber Crazing And Its Influence To Anti- CAF Capability Of PCB
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作者：M Hu，Z Chen 摘要：灯芯是PCB制程控制的常规控制项目,一般定义铜渗入玻纤的部分为灯芯,通常在金相显微镜明场下观察.但随着产品绝缘可靠性要求越来越高,只能在金相显微镜暗场下观察到的玻纤裂纹(玻纤发亮区域)需引起材料和PCB生产厂商更多的重视,因为其对后续产品的绝缘性能有关键影响.文章通过实验考察了材料,钻孔等因素对玻纤裂纹长度的影响,并分析了其对PCB耐CAF性能的影响.通过修正后的CACLE模型,结合玻纤裂纹长度,推算不同孔壁间距下的耐CAF性能,为后续的相关研究提供了理论依据和试验基础. |
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