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 Analytical Scaling of Trap-Limited Current in 2-D Ultrathin Dielectrics 二维超薄电介质中陷阱限制电流的解析标度
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符号
数学
算术
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Chun Yun Kee; Yee Sin Ang; Er‐Ping Li; L. K. Ang 出版日期：2022-11-24 |
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