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 Measurement and modeling of internal stresses at microscopic and mesoscopic levels using micro-Raman spectroscopy and X-ray diffraction 用显微拉曼光谱和X射线衍射测量和模拟微观和介观水平的内应力
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期刊：Powder Diffraction 作者：B. Benedikt; Matthew W. Lewis; P. Rangaswamy 出版日期：2006-06-01 |
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