| 标题 |
Drain Extended MOS Body Region Engineering for Switching Reliability Under Unclamped Inductive Load Conditions 用于非箝位感性负载条件下开关可靠性的漏极扩展MOS体区工程
相关领域
双极结晶体管
静电放电
热失控
NMOS逻辑
可靠性(半导体)
材料科学
瞬态(计算机编程)
电气工程
电压
接触电阻
晶体管
电子工程
工程类
计算机科学
物理
纳米技术
功率(物理)
操作系统
量子力学
电池(电)
图层(电子)
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Shraddha Pali; Nitish Kumar; Ankur Gupta 出版日期:2023-01-17 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
ppboyindream
Lv1 求助人 关闭了本次求助。
说明 时间太长了【积分已退回】
ppboyindream
Lv1 求助人 发起了本次求助