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![]() 拉伸应变增强GeSn n沟道MOSFET中的电子迁移率
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Yen Chuang; Chia-You Liu; Guang-Li Luo; Jiun-Yun Li 出版日期:2021 |
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傲娇石头
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