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 Extension, Closure and Conversion of In-Grown Stacking Faults in 4H-SiC Epilayers 相关领域
材料科学
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期刊：Materials science forum 作者：Zhe Li; Tao Ju; Bao Shun Zhang; Xuan Zhang; Li Guo Zhang; et al 出版日期：2018-06-05 |
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