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![]() 通过3D光学相干断层扫描表征包衣和片芯粗糙度
相关领域
涂层
材料科学
光学相干层析成像
表面光洁度
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涂膜
光学
物理
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期刊:International Journal of Pharmaceutics 作者:Daniel Markl; Patrick Wahl; Heinz Pichler; Stephan Sacher; Johannes Khinast 出版日期:2017-12-11 |
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