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 Advancing Quantitative Failure Analysis and Strain Measurements at the Nanoscale by Using Scanning Electron Diffraction Microscopy Enhanced by Beam Precession 利用光束进动增强的扫描电子衍射显微镜推进纳米尺度的定量失效分析和应变测量
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期刊：Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者：Tomáš Morávek; Eduardo Serralta; Lukáš Hladík; Narendraraj Chandran; Daniel Němeček; et al 出版日期：2024-10-23 |
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