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 In situ growth of Z-scheme CuS/CuSCN heterojunction to passivate surface defects and enhance charge transport 原位生长Z型CuS/CuSCN异质结钝化表面缺陷增强电荷输运
相关领域
钝化
异质结
材料科学
光电子学
量子点
纳米技术
二极管
硫化铜
载流子
铜
图层（电子）
冶金
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| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Colloid and Interface Science 作者：Ning Pei; Junhui Liang; Ling‐Hui Li; Da Chen; Laishun Qin; et al 出版日期：2021-02-02 |
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