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  XPS and morphological properties of Cr2O3 thin films grown by thermal evaporation method 热蒸发法生长Cr2O3薄膜的XPS及形貌特征
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期刊：Results in physics 作者：Ahmed Kadari; T. Schemme; Dahane Kadri; J. Wollschläger 出版日期：2017-01-01 |
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