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Ultrahigh field-effect mobility of 147.5 cm2/Vs in ultrathin In2O3 transistors via passivating the surface of polycrystalline HfO2 gate dielectrics |
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Taikyu Kim; Seung Ho Ryu; Jihoon Jeon; Taeseok Kim; In-Hwan Baek; Seong Keun Kim 出版日期:2025-01-21 |
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