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 Electronic structure and origin of intrinsic defects in sputtered HfTiO2 alloy dielectric on GaAs surface GaAs表面溅射HfTiO2合金电介质中本征缺陷的电子结构及成因
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期刊：Journal of Alloys and Compounds 作者：Chandreswar Mahata; M. V. Jyothirmai; Mahesh Kumar Ravva; Sabyasachi Chakrabortty; Sungjun Kim; et al 出版日期：2022-04-01 |
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