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Wafer-scale mapping of carrier density and mobility with terahertz time-domain ellipsometry 相关领域
薄脆饼
太赫兹辐射
光学
材料科学
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光电子学
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期刊:Optics Letters 作者:Verdad C. Agulto; Toshiyuki Iwamoto; Zixi Zhao; Shuang Liu; Kosaku Kato; et al 出版日期:2025-01-02 |
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