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  XANES Analysis of Optical Activation Process of Er in Si:Er2O3 Thin Film: Electronic and Structural Modifications around Er 相关领域
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期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Masashi Ishii; Shuji Komuro; Takitaro Morikawa; Yoshinobu Aoyagi; Tetsuya Ishikawa; et al 出版日期：1999-01-01 |
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