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 Bias‐Selectable Si Nanowires/PbS Nanocrystalline Film n–n Heterojunction for NIR/SWIR Dual‐Band Photodetection 偏压可选Si纳米线/PbS纳米晶薄膜N-N异质结NIR/SWIR双波段光电检测
相关领域
材料科学
响应度
光探测
光电子学
光电探测器
异质结
纳米晶材料
纳米线
偏压
红外线的
近红外光谱
比探测率
光学
电压
纳米技术
物理
量子力学
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期刊：Advanced Functional Materials 作者：Chenhao Xu; Sheng‐Hui Luo; Yang Wang; Xiaofeng Shi; Can Fu; et al 出版日期：2023-05-11 |
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