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  Spectral fitting method for obtaining the refractive index and thickness of chalcogenide films 求取硫化物薄膜折射率和厚度的光谱拟合法
相关领域
硫系化合物
折射率
材料科学
光学
薄膜
纳米
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光电子学
复合材料
纳米技术
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物理
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量子力学
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期刊：Optics Express 作者：Ning Mao; Baoan Song; Lei Pan; Xinli Liu; Changgui Lin; et al 出版日期：2021-08-26 |
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