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High-Yield Etch Processes With Enhanced Performance of SOT-MRAM Devices on 300-mm Wafers |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Zhenghui Ji; Guoxiu Qiu; Yongzhao Peng; Qijun Guo; Enlong Liu; et al 出版日期:2026 |
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(2025-6-4)