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 Physics-based compact model for 2D TMD FETs with full-range validation from single device to circuit 相关领域
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期刊：Nanoscale Horizons 作者：Dokyoung Lee; Jeongyun Jang; Jimin Han; Sae Rim Kim; Jiwon Baik; et al 出版日期：2026-01-01 |
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(2025-6-4)
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