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![]() 电荷俘获和固定电荷对FeFET亚阈值特性的作用研究
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Chengji Jin; C.-J. Su; Y. J. Lee; P.-J. Sung; Toshiro Hiramoto; et al 出版日期:2021-02-24 |
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