| 标题 |
  Quantitative ADF-STEM and STEM-EELS at the atomic level 原子水平上的定量ADF-STEM和STEM-EELS
相关领域
表征（材料科学）
扫描透射电子显微镜
纳米材料
纳米结构
电子能量损失谱
纳米技术
材料科学
分辨率（逻辑）
图像分辨率
光谱学
透射电子显微镜
光学
计算机科学
物理
人工智能
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances 作者：Christian Dwyer 出版日期：2014-08-05 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
SYLH
Rondab
yar
916
pcr163
YamDaamCaa
从容芮
风清扬
pluto
Bio
昏睡的蟠桃
迷人的天抒
shinysparrow
挖掘机
CyrusSo524
轻松的惜芹
ppg123
坦率的匪
yydragen
TMOMOR
皖公网安备34019202002308
