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Practical investigation of the gate bias effect on the reverse recovery behavior of the body diode in power MOSFETs |
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期刊:2014 International Power Electronics Conference (IPEC-Hiroshima 2014 - ECCE ASIA) 作者:Kristian Lindberg-Poulsen; Lars Press Petersen; Ziwei Ouyang; Michael A. E. Andersen 出版日期:2014 |
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(2025-6-4)