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 Decoding “black-white band” defects in PVT grown 4H-SiC and its suppression through thermal field optimization PVT生长4H-SiC中“黑白带”缺陷的解码及其热场优化抑制
相关领域
材料科学
解码方法
热的
白色（突变）
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领域（数学）
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数学
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期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：Jiangfeng Wang; Xuejian Xie; Kerui Chen; Laibin Zhao; Xinglong Wang; et al 出版日期：2025-08-05 |
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