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Damage mechanisms caused by radiation proton (ion beam) in double interface layer nano-MOS structure 相关领域
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期刊:Radiation Physics and Chemistry 作者:Defne Akay; Özlem Abay; Hüseyin Sönmez; Uğur Gökmen; Sema Bi̇lge Ocak 出版日期:2024-11-09 |
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