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Investigation of the Progressive Gate Breakdown Behaviors in p-GaN Gate HEMTs p-GaN栅极HEMT中渐进式栅极击穿行为的研究
相关领域
金属浇口
量子隧道
材料科学
光电子学
击穿电压
肖特基势垒
肖特基二极管
晶体管
电气工程
电压
栅氧化层
工程类
二极管
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| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Chao Xin; Chengkang Tang; Jingjing Tan; Chen Wang; Qingqing Sun; et al 出版日期:2022-11-15 |
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