SiC MOS 器件氧化层界面失效分析

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标题	SiC MOS 器件氧化层界面失效分析
网址	求助人暂未提供
DOI	暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
其它	罗志鹏. SiC MOS器件的界面特性及可靠性研究[D]. 中国科学院大学,2021.
求助人	番茄煮糖在 2025-04-23 21:51:43 发布自陕西，悬赏 10 积分
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