| 标题 |
Transistor profiling for quantitative evaluation of variability in transistor characteristics due to layout dependent effects (LDEs) |
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10.1117/12.3010201
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| 其它 |
期刊:DTCO and Computational Patterning III 作者:Chikaaki Kodama; Mikiyasu Yamaji; Hiroshi Kitahara; Akira Hokazono; Shigeki Nojima; et al 出版日期:2024-04-10 |
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(2025-6-4)