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Thermal Sensitivity Analysis of 3D IC Face-to-Back Stacking Using Foundation Models for Physics |
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期刊:Electronic Packaging Technology Conference 作者:Kabaria Hardik; Beer Mohideen Sheik Dawood; Davenport John L.; C. Balaji; K. Joseph; et al 出版日期:2025-12-02 |
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(2025-6-4)